型号： ME-Mapping
厂家： 武汉颐光科技
技术指标:
   光谱范围：380-1650nm；

   光斑尺寸：200μm

   最大样品尺寸：8英寸

   重复性：≤0.005nm

   自动对焦范围：0-20nm

   椭偏指数：≤±0.5%

    用于半导体、电介质、聚合物、有机物、金属、多层膜物质的薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的高质量光谱测试与分析