仪器设备

电感耦合等离子体深硅刻蚀 RIE-400iPB

型号: RIE-400iPB
厂家: 日本 SAMACO
技术指标:
   样品尺寸:最大4英寸基片
  最大深宽比:≥30:1
  最大刻蚀速率:≥8μm/min
  包括工艺:Bosch、硅纳米等
  刻蚀材料:硅
  刻蚀精度:最小线宽30nm,侧壁倾斜角度85°—92°可调

  均匀性:≥95%

  重复性:≥95%

责任工程师:李瑶
联系方式:81258579; liyao13@iphy.ac.cn
仪器位置:怀柔微纳加工实验室超净间
主要功能及应用范围:
    用于硅基、III-V族半导体及氧化物等材料的电感耦合等离子体-反应离子刻蚀,辅助形成具有高宽深比的微/纳结构。可用于各种具有高深宽比或高精细的微纳结构与器件的制作,如:微纳电子器件,光电子器件,生物传感器,微纳机电系统,超导电子学器件,磁电子学器件等等。该设备配有十一路刻蚀气路及液氮及冷却液控温系统,利用氦气快速导热,可适用于多种材料的刻蚀工艺。