上海复享光学AR-META型超表面光场检测系统

基于超表面的超透镜相比于传统的光学透镜具有体积小、效率高以及功能可设计的优势，因而为下一代光子学器件的开发与应用提供了新的可能。而由于超透镜小型化的特点，其光聚焦性能也超出了传统光路的检测能力。针对超表面光场检测困难的问题，上海复享光学开发了“AR-META”型超表面光场检测系统，能够对超表面进行微区的光场、焦距以及成像分辨率探测。该系统采用消除像差的光学设计，以商用设备实现微米级超表面器件的原位透/反射光场测量，并能提供焦距、成像分辨率、点扩散函数、调制传递函数、斯特列尔比、数值孔径、偏折效率等关键测量指标分析。此外，该系统配置了自动化的操作软件以及多个匹配的外部结构，结合不同的光源与丰富的偏振器件，该设备还具有测量光谱宽（380-1700nm），采集信号丰富的特点。是一款专业化的超表面与超透镜光场检测平台。其出色的光场检测能力在基于超表面的光学器件的设计与优化中能够起到关键的作用。