超薄宽频带等离子体偏振检测器件
偏振检测在遥感探测中具有重要应用，而实现宽频段、超薄的偏振检测具有更重要的意义。为了实现上述目的，首尔国立大学的Byoungho Lee课题组利用“X”型表面等离激元结构实现了这一目标，通过检测入射光在等离激元结构
x, y方向的强度，反推出斯托克斯参数S1, S2, S3的数值，由此得到入射光的偏振态。而且由于巧妙的结构设计，该器件可以实现750-1050 nm波段范围内的入射光偏振态检测。该文章于2018年发表于 Laser Photonics Rev. 12, 1700297 (2018)。
相关链接：https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/lpor.201700297
图 器件结构示意图、模拟图以及宽频偏振检测示意图
