ZEISS Xradia 520 Versa XRM X-射线相位衬度成像技术

X射线相位衬度成像是近十多年来发展起来的一种新的成像方法。X射线通过轻元素物质获得的相位改变是光强改变的一千倍到十万倍，因此，观察轻元素样品的内部结构时，X射线相位衬度具有比传统吸收成像高得多的灵敏度。这种成像方法可以广泛应用于生物、医学、材料科学等众多领域，为科学研究、疾病诊断、材料合成等提供强有力的表征手段。

最近，蔡司公司进一步拓展了X射线衍射技术应用，首次发布了面向实验室的用于三维晶粒成像研究的衍射衬度成像系统，挣脱了该技术最初仅在有限数量的同步辐射X射线设备上应用的范畴，属于基于实验室X射线显微 (XRM) 的衍射衬度成像技术的首次商业发行。他们研发的系统可进行三维晶粒信息的可视化，将无损性三维晶粒重构转化为常规工具，并可与其他技术进行关联的显微研究；在镍电池电极化学组份的三维分析成像（a），固体氧化物燃料电池（SOFC）电极的多相成像(b)，感染病毒的 Ptk2 细胞的部分三维渲染(c) 以及人体癌细胞中的元素分布(d)等研究中获得了应用。

Photonic Professional GT设备外观

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