仪器设备

半导体特性测量系统

型号: 4200-SCS/F
厂家: Keithley
技术指标:
    配置4个中功率源测量单元(SMU),电流最大100mA,电压最大200V,增配远端前置放大器,电流测量分辨率可达0.1fA。
    配置变频CV测量单元,频率范围:10KHz-10MHz。
责任工程师:田士兵
联系方式:82648198 tianshibing@iphy.ac.cn
仪器位置:M楼超净间千级区
主要功能及应用范围:
    电学特性测量,适用于各种纳米材料器件的电导和电容特性表征。